[发明专利]大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统

说明书

本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统，通过获取在试验环境下大气中子诱发的电子器件的原始失效率；分别获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量；根据所述试验环境和目标环境的大气中子通量获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量比例因子；根据所述原始失效率和大气中子通量比例因子可以获取到在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率。获取过程简单高效，简化了大气中子条件下电子器件的辐射敏感特性分析过程，从而实现对大气中子条件下电子器件单粒子效应敏感性的定量评价，解决我国目前大气中子条件下电子器件单粒子效应评价方法缺失的难题。

技术领域

本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统。

背景技术

银河宇宙射线、太阳宇宙射线等各种宇宙射线进入到地球的中性大气，并与大气中的氮和氧发生相互作用，形成了各种辐射粒子，使得大气辐射环境非常复杂。在各种辐射粒子之中，由于中子不带电、穿透力极强而且在大气中的含量高，因此大气中子入射电子系统所引起的单粒子效应，成为了威胁电子设备安全工作的关键因素。

目前为了分析大气中子条件下电子器件的辐射敏感特性，需要对电子器件进行一系列的大气中子单粒子效应试验，由于试验过程依赖于特定的环境辐射条件，因此得出的结果仅对特定的环境有意义，当需要分析电子器件在其它环境下的辐射敏感特性时，则需要重新进行试验，导致目前大气中子条件下电子器件的辐射敏感特性分析过程繁琐。

发明内容

基于此，有必要针对目前大气中子条件下电子器件的辐射敏感特性分析过程繁琐的问题，提供一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统。

一种大气中子诱发的电子器件失效率预计方法，包括以下步骤：

获取在试验环境下大气中子诱发的电子器件的原始失效率；

分别获取所述试验环境下的原始大气中子通量与目标环境下的目标大气中子通量；

根据所述原始大气中子通量和目标大气中子通量获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量比例因子；

根据所述原始失效率和大气中子通量比例因子获取在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率。

在其中一个实施例中，所述根据所述原始大气中子通量和目标大气中子通量获取所述试验环境与目标环境的大气中子通量比例因子的步骤包括以下步骤：

根据下述函数关系式获取所述大气中子通量比例因子：

μ＝F_n原始÷F_n目标

式中，μ为所述大气中子通量比例因子，F_n原始为所述原始大气中子通量，F_n目标为目标大气中子通量。

在其中一个实施例中，所述根据所述原始失效率和大气中子通量比例因子获取在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率的步骤包括以下步骤：

根据下述函数关系式获取在目标环境下大气中子诱发的电子器件的目标失效率：

λ_目标＝λ_原始÷μ

式中，μ为所述大气中子通量比例因子，λ_原始为所述原始失效率，λ_目标为所述目标失效率。

在其中一个实施例中，所述分别获取所述试验环境下的原始大气中子通量与目标环境下的目标大气中子通量的步骤包括以下步骤：

分别在所述试验环境和目标环境放置Bonner球谱仪，获取试验环境和目标环境的谱仪测量读数；