[发明专利]POR电路的测试系统及集成电路在审
申请号: | 201711339376.5 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108132434A | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 张铁成;张煜彬;胡裕达;卫振琦 | 申请(专利权)人: | 上海贝岭股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人: | 薛琦;李梦男 |
地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种POR电路的测试系统及集成电路。所述POR电路集成在集成电路上,所述POR电路包括电压检测端和输出端,所述集成电路包括第一IO引脚和第二IO引脚,所述第二IO引脚与所述输出端连接;所述测试系统用于在接收到测试指令时控制所述集成电路通过所述第一IO引脚输出测试电压至所述电压检测端,并检测所述第二IO引脚的电压值以计算所述POR电路的指标参数。本发明通过复用集成电路的两个IO引脚实现了对POR电路的测试,测试过程简单便捷,且准确率和测试效率均大大提高。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 电路 测试系统 电压检测端 输出端连接 测试过程 测试效率 测试指令 电路集成 输出测试 指标参数 输出端 准确率 复用 测试 检测 | ||
【主权项】:
一种POR电路的测试系统,所述POR电路集成在集成电路上,所述POR电路包括电压检测端和输出端,所述集成电路包括第一IO引脚和第二IO引脚,其特征在于,所述第二IO引脚与所述输出端连接;所述测试系统用于在接收到测试指令时控制所述集成电路通过所述第一IO引脚输出测试电压至所述电压检测端,并检测所述第二IO引脚的电压值以计算所述POR电路的指标参数。
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