[发明专利]痕量检测汞离子的方法有效
申请号: | 201711296419.6 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN108169202B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 鲍皓明;张洪文;蔡伟平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65 |
代理公司: | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 任岗生 |
地址: | 230031 安徽省合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: |
本发明公开了一种痕量检测汞离子的方法。它包括表面增强拉曼散射法,特别是先将其外包覆有硫化铜壳层的金纳米颗粒置于汞离子溶液中浸泡至少5min,再对其进行固液分离处理,得到生成物,之后,将生成物作为表面增强拉曼散射的活性基底,使用激光拉曼光谱仪测量其上反应富集的汞;所述的金纳米颗粒的粒径为10‑200nm,其外包覆的硫化铜壳层的壳厚为0.6‑25nm,所述的浸泡的时间为5‑120min,所述的固液分离处理为离心分离或过滤分离,离心分离时的转速为3000‑7000r/min、时间为3‑7min,所述的激光拉曼光谱仪的激发波长为532nm或633nm或785nm、输出功率为0.1‑25mW/μm |
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搜索关键词: | 痕量 检测 离子 方法 | ||
【主权项】:
1.一种痕量检测汞离子的方法,包括表面增强拉曼散射法,其特征在于完成步骤如下:
步骤1,先将其外包覆有硫化铜壳层的金纳米颗粒置于汞离子溶液中浸泡至少5min,再对其进行固液分离处理,得到生成物;
步骤2,将生成物作为表面增强拉曼散射的活性基底,使用激光拉曼光谱仪测量其上反应富集的汞。
2.根据权利要求1所述的痕量检测汞离子的方法,其特征是金纳米颗粒的粒径为10‑200nm,其外包覆的硫化铜壳层的壳厚为0.6‑25nm。3.根据权利要求1所述的痕量检测汞离子的方法,其特征是将其外包覆有硫化铜壳层的金纳米颗粒置于汞离子溶液中浸泡的时间为5‑120min。4.根据权利要求1所述的痕量检测汞离子的方法,其特征是固液分离处理为离心分离,或过滤分离。5.根据权利要求4所述的痕量检测汞离子的方法,其特征是离心分离时的转速为3000‑7000r/min、时间为3‑7min。6.根据权利要求1所述的痕量检测汞离子的方法,其特征是激光拉曼光谱仪的激发波长为532nm或633nm或785nm、输出功率为0.1‑25mW/μm2、积分时间为1‑20s。
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