[发明专利]痕量检测汞离子的方法有效
| 申请号： | 201711296419.6 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108169202B | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 鲍皓明;张洪文;蔡伟平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人： | 任岗生 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 痕量 检测 离子 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种痕量检测汞离子的方法，包括表面增强拉曼散射法，其特征在于完成步骤如下：
步骤1，先将其外包覆有硫化铜壳层的金纳米颗粒置于汞离子溶液中浸泡，其浸泡的时间为5-120min，再对其进行固液分离处理，得到生成物；
步骤2，将生成物作为表面增强拉曼散射的活性基底，使用激光拉曼光谱仪测量其上反应富集的汞；
所述金纳米颗粒的粒径为10-200nm，其外包覆的硫化铜壳层的壳厚为0.6-25nm。
2.根据权利要求1所述的痕量检测汞离子的方法，其特征是固液分离处理为离心分离或过滤分离。
3.根据权利要求2所述的痕量检测汞离子的方法，其特征是离心分离时的转速为3000-7000r/min、时间为3-7min。
4.根据权利要求1所述的痕量检测汞离子的方法，其特征是激光拉曼光谱仪的激发波长为532nm或633nm或785nm、输出功率为0.1-25mW/μm2、积分时间为1-20s。
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