[发明专利]一种存储单元的仿真验证方法、装置和设备有效

专利信息
申请号: 201711276330.3 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN108228965B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 张永 申请(专利权)人: 北京物芯科技有限责任公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06F30/20
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100013 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种存储单元的仿真验证方法、装置和设备,所述方法包括:在设计代码层级结构中确定待测试存储模块,所述待测试存储模块包括存储模型的设计代码和测试代码,所述待测试存储模块还包括用于指示所述测试代码与所述设计代码之间是否连接的选择语句;对所述待测试存储模块进行实例化;对所述选择语句进行配置使所述设计代码与所述测试代码连接,并根据配置结果,对实例化后的所述存储模型的设计代码进行仿真验证。采用本发明提供的方法,可以利用统一的测试代码对所有的存储单元进行验证,不仅减少了仿真验证时间,还减少了验证人员的编写负担。
搜索关键词: 一种 存储 单元 仿真 验证 方法 装置 设备
【主权项】:
1.一种存储单元的仿真验证方法,其特征在于,包括:在设计代码层级结构中确定待测试存储模块,所述待测试存储模块包括存储模型的设计代码和测试代码,所述存储模型适用于芯片设计中所有存储单元;所述待测试存储模块还包括用于指示所述测试代码与所述设计代码之间是否连接的选择语句;对所述待测试存储模块进行实例化;对所述选择语句进行配置使所述设计代码与所述测试代码连接,并根据配置结果,对实例化后的所述存储模型的设计代码进行仿真验证。
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