[发明专利]一种存储单元的仿真验证方法、装置和设备有效

专利信息
申请号: 201711276330.3 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN108228965B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 张永 申请(专利权)人: 北京物芯科技有限责任公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06F30/20
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100013 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 单元 仿真 验证 方法 装置 设备
【说明书】:

发明公开了一种存储单元的仿真验证方法、装置和设备,所述方法包括:在设计代码层级结构中确定待测试存储模块,所述待测试存储模块包括存储模型的设计代码和测试代码,所述待测试存储模块还包括用于指示所述测试代码与所述设计代码之间是否连接的选择语句;对所述待测试存储模块进行实例化;对所述选择语句进行配置使所述设计代码与所述测试代码连接,并根据配置结果,对实例化后的所述存储模型的设计代码进行仿真验证。采用本发明提供的方法,可以利用统一的测试代码对所有的存储单元进行验证,不仅减少了仿真验证时间,还减少了验证人员的编写负担。

技术领域

本发明涉及仿真验证技术领域,尤其涉及一种存储单元的仿真验证方法、装置和设备。

背景技术

在芯片设计过程中,通常情况下设计代码采用分层级、多模块设计,不同的模块会设置有至少一个存储单元,例如存储器memory。故在芯片设计过程中,不仅需要编写各个模块的代码,还需要编写各个存储单元的代码,以实现各个存储单元的功能,而存储单元通常用于实现存储数据,或从其内读出数据等功能。芯片开发过程通常包含编写设计代码和仿真验证设计代码两个步骤,因此,在设计人员编写完设计代码时,需要验证人员对设计代码进行验证,例如,在对各个模块的存储单元进行验证时,需要验证存储单元的写入和读出功能是否正常,以及写入和读出数据是否正确等。

现有技术中在对各个模块的存储单元进行验证时,需要为各个模块的存储单元单独设计验证环境,即针对任一存储单元需要单独为该存储单元单独编写测试代码,然后将该存储单元的设计代码和测试代码进行编译处理得到可执行文件,基于此对该存储单元的设计代码进行仿真验证,如此操作会存在以下缺点:(1)人工编码繁琐且重复,耗时较多,自动化程度低且造成验证人员工作效率低;(2)由于为各个模块的存储单元单独设计了验证环境,导致各个验证环境需要单独仿真,且仿真时间较长,尤其当多个仿真验证环境同时运行时,还会加大机器资源的开销;(3)验证环境需要单独维护,维护工作繁琐且容易出错,人工干预度较高。

综上所述,在对存储单元进行仿真验证时,如何避免设计单独的验证环境,减少仿真验证时间,以及避免多个模块的存储单元同时仿真时导致的机器资源开销较大问题的发生,同时减少验证人员的编写负担和提高验证人员的工作效率是亟待解决的技术问题之一。

发明内容

本发明实施例提供一种存储单元的仿真验证方法、装置和设备,用以解决现有技术中存在的需要为各个存储单元单独设计验证环境、仿真验证时间较长及验证人员的工作效率低等问题。

第一方面,本发明实施例提供一种存储单元的仿真验证方法,包括:

在设计代码层级结构中确定待测试存储模块,所述待测试存储模块包括存储模型的设计代码和测试代码,所述存储模型适用于芯片设计中所有存储单元;所述待测试存储模块还包括用于指示所述测试代码与所述设计代码之间是否连接的选择语句;

对所述待测试存储模块进行实例化;

对所述选择语句进行配置使所述设计代码与所述测试代码连接,并根据配置结果,对实例化后的所述存储模型的设计代码进行仿真验证。

较佳地,所述待测试存储模块包括存储模型设计模块和存储模型测试模块以及用于指示测试代码与设计代码之间是否连接的选择语句,所述存储模型设计模块包括存储模型的设计代码,所述存储模型测试模块包括存储模型的测试代码,在设计代码层级结构中确定待测试存储模块之前,所述方法还包括:

将所述存储模型设计模块和所述存储模型测试模块以及用于指示测试代码与设计代码之间是否连接的选择语句封装成所述待测试存储模块。

优选地,所述待测试存储模块为所述存储模型设计模块,所述存储模型设计模块包括存储模型的设计代码和存储模型的测试代码以及用于控制测试代码与设计代码是否连接的选择语句;在设计代码层级结构中确定待测试存储模块之前,所述方法还包括:

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