[发明专利]一种自适应样本块图像修复方法有效
| 申请号： | 201711255783.8 | 申请日： | 2017-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN107967673B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 何凯;牛俊慧;沈成南;黄婉蓉 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/32 |
| 代理公司： | 12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人： | 李林娟 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自适应样本块图像修复方法，所述图像修复方法基于改进的SSIM算法，包括以下步骤：标记待修复样本块，当待修复样本块的边长小于预设值时，根据改进的SSIM算法计算相邻尺寸样本块之间的结构相似度；根据结构相似度选取最优样本块的大小；根据最小绝对差平方和匹配准则、最优样本块的大小，从图像源区域中寻找最优匹配块；获取源区域内的匹配块与待修复样本块之间的误差限制准则；若满足准则，利用最优匹配块对待修复样本块进行填充，并将待修复样本块标记为已修复的样本块，更新破损区域及源区域。本方法根据待修复图像不同区域的信息和结构特征来自适应确定合适的样本块大小，可有效提高修复效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自适应 样本 图像 修复 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自适应样本块图像修复方法，其特征在于，所述图像修复方法基于改进的SSIM算法，包括以下步骤：/n标记待修复样本块，当待修复样本块的边长小于预设值时，根据改进的SSIM算法计算相邻尺寸样本块之间的结构相似度；根据结构相似度选取最优样本块的大小；/n根据最小绝对差平方和匹配准则、最优样本块的大小，从图像源区域中寻找最优匹配块；/n获取源区域内的匹配块与待修复样本块之间的误差限制准则；若满足准则，利用最优匹配块对待修复样本块进行填充，并将待修复样本块标记为已修复的样本块，更新破损区域及源区域；/n所述结构相似度具体为：/n
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