[发明专利]一种纯铼中痕量杂质元素的测定方法在审
| 申请号： | 201711238467.X | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN107741451A | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 年季强;浦益龙;吕水永;刘青青;华剑 | 申请（专利权）人： | 江苏隆达超合金航材有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G01N27/68 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 | 代理人： | 曹祖良,任月娜 |
| 地址： | 214105 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种纯铼中痕量杂质元素的测定方法，包括如下步骤（1）将铼粉或铼粒压制成直径为10~20mm，厚度为2~10mm的试样，（2）选择不同等级的3种以上已测定痕量元素含量的纯铼样品在GDMS上建立痕量杂质元素的校准曲线，得出该方法的相对灵敏度因子；（3）用辉光放电质谱仪测定试样，应用该相对灵敏度因子计算出痕量杂质元素的质量分数。本方法采用同级别仪器测定的样品作为校准样品建立分析曲线，样品制备简单，多元素同时测定，能够测定含量在0.02~200µg/g的杂质元素，具有检出限低、准确度和可靠性高等优点，是高纯金属材料的有效分析方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纯铼中 痕量 杂质 元素 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种纯铼中痕量杂质元素的测定方法，其特征在于：包括如下步骤：（1）将待检测的铼粉或铼粒压制成直径为10~20mm，厚度为2~10mm的试样，经盐酸泡洗5~10min后，用超纯水连续清洗，最后采用高纯气体吹干；（2）选择不同等级的3个以上且已准确测定了待测痕量杂质元素的纯铼样品做校准样品，选择最佳痕量杂质元素的分析同位素及分辨率，采用辉光质谱法GDMS建立校准曲线，得出各元素的相对灵敏度因子RSF；（3）采用辉光放电质谱仪GDMS测定制备的纯铼试样，先预溅射10~30min后开始测试纯铼试样，应用相对灵敏度因子计算出其中痕量杂质元素的质量分数。
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