[发明专利]一种测量纳米颗粒物化学组分的气溶胶质谱仪

摘要

本发明公开了一种测量纳米颗粒物化学组分的气溶胶质谱系统，其包括纳米扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪、第一差分室、第二差分室、光电离室以及反射式飞行时间质谱装置，其中，所述纳米扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪的气溶胶出口与所述第一差分室进口连接，所述第一差分室的出口与所述第二差分室进口连接，所述第二差分室的出口与所述光电离室的进口连接，所述光电离室出口与所述反射式飞行时间质谱装置连接。本发明的气溶胶质谱系统通过纳米扫描式电迁移率粒径谱仪实现对纳米颗粒物的荷电、粒径选择和粒谱分析，用于实时、在线测量获得粒径小于60nm纳米颗粒物的化学组分信息。检测过程简单、实现了纳米颗粒物的快速和高效率传输。

主权项

1.一种测量纳米颗粒物化学组分的气溶胶质谱系统，其特征在于，所述气溶胶质谱系统包括纳米扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪、第一差分室、第二差分室、光电离室以及反射式飞行时间质谱装置，其中，所述纳米扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪的气溶胶出口与所述第一差分室进口连接，所述第一差分室的出口与所述第二差分室进口连接，所述第二差分室的出口与所述光电离室的进口连接，所述光电离室出口与所述反射式飞行时间质谱装置连接；所述纳米扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪包括颗粒物带电中和器、纳米差分式电迁移率粒径分析器、冷凝式粒子计数器CPC和机械泵；所述颗粒物带电中和器通过所述纳米差分式电迁移率粒径分析器与所述冷凝式粒子计数器CPC连接；所述纳米差分式电迁移率粒径分析器、冷凝式粒子计数器CPC分别与所述机械泵连接。