[发明专利]用于绕开电路行中的缺陷的技术有效
| 申请号： | 201711163140.0 | 申请日： | 2017-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN108228395B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | D·刘易斯 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F11/18 | 分类号： | G06F11/18;G06F15/78 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 张伟;王英 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及用于绕开电路行中的缺陷的技术。集成电路包括电路行。集成电路的第一区域包括电路行中的每个电路行的第一部分，并且集成电路的第二区域包括电路行中的每个电路行的第二部分。集成电路基于第一区域中的电路行中的第一电路行中的第一缺陷来将用于第一区域中的电路行的第一子集的功能转移到第一区域中的电路行的第二子集。集成电路基于第二区域中的电路行中的第二电路行中的第二缺陷来将用于第二区域中的电路行的第三子集的功能转移到第二区域中的电路行的第四子集。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 绕开 电路 中的 缺陷 技术 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路，包括：电路行，其中所述集成电路的第一区域包括所述电路行中的每一电路行的第一部分，其中所述集成电路的第二区域包括所述电路行中的每一电路行的第二部分，其中，所述集成电路基于所述第一区域中的所述电路行中的第一电路行中的第一缺陷来将用于所述第一区域中的所述电路行的第一子集的功能转移到所述第一区域中的所述电路行的第二子集，其中仅禁用在所述第一区域中的所述电路行中的所述第一电路行，其中，所述集成电路基于所述第二区域中的所述电路行中的第二电路行中的第二缺陷来将用于所述第二区域中的所述电路行的第三子集的功能转移到所述第二区域中的所述电路行的第四子集，其中仅禁用在所述第二区域中的所述电路行中的所述第二电路行，其中所述电路行中的所述第二电路行与所述电路行中的所述第一电路行不同，并且其中，所述电路行的所述第三子集包括所述第一子集中的所述电路行中的至少一些电路行。
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