[发明专利]用于熔丝验证的基于Simon的散列在审
| 申请号： | 201711143368.3 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN108228960A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | H·考尔;S·K·马修;M·A·安德斯;J·沃克;J·G·山德里 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 何焜;黄嵩泉 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请公开了用于熔丝验证的基于Simon的散列。描述了用于验证的基于Simon的散列的指令和逻辑。在一个实施例中，处理器包括：存储器，该存储器用于存储多个值；以及散列电路，包括：Simon密码电路，能操作以接收来自存储器的多个值、应用Simon密码以及为多个值中的每一个生成输出；以及电路，耦合到Simon密码电路，用于将来自Simon密码电路的多个值中的每个值的输出组合为散列摘要，该散列摘要指示存储器中的值是否是有效的。 | ||
| 搜索关键词： | 散列 存储器 密码电路 验证 熔丝 电路 指示存储器 输出组合 耦合到 处理器 存储 指令 输出 申请 应用 | ||
【主权项】：
1.一种处理器，包括：存储器，所述存储器用于存储多个值；以及散列电路，包括：Simon密码电路，能操作以将Simon密码应用到所述多个值中的每一个并且为所述多个值中的每一个生成输出，电路，耦合到所述Simon密码电路，用于将来自所述Simon密码电路的所述多个值中的每个值的输出组合为散列摘要，所述散列摘要指示所述存储器中的值是否是有效的。
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