[发明专利]用于熔丝验证的基于Simon的散列在审

专利信息
申请号: 201711143368.3 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN108228960A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: H·考尔;S·K·马修;M·A·安德斯;J·沃克;J·G·山德里 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 何焜;黄嵩泉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 散列 存储器 密码电路 验证 熔丝 电路 指示存储器 输出组合 耦合到 处理器 存储 指令 输出 申请 应用
【说明书】:

本申请公开了用于熔丝验证的基于Simon的散列。描述了用于验证的基于Simon的散列的指令和逻辑。在一个实施例中,处理器包括:存储器,该存储器用于存储多个值;以及散列电路,包括:Simon密码电路,能操作以接收来自存储器的多个值、应用Simon密码以及为多个值中的每一个生成输出;以及电路,耦合到Simon密码电路,用于将来自Simon密码电路的多个值中的每个值的输出组合为散列摘要,该散列摘要指示存储器中的值是否是有效的。

发明领域

本公开涉及处理逻辑、微处理器以及相关联的指令集架构领域,当由处理器或其他处理逻辑执行该指令集架构时,该指令集架构执行逻辑、数学或其他功能性操作。

相关技术的描述

集成电路在过去几年内发展得十分复杂。这些设备中的许多设备使用存储在熔丝阵列中的熔丝值来配置。熔丝值可用于启用或禁用设备上的功能或者可以包括在设备上使用的信息,诸如例如,加密密钥。熔丝值最初被编程到熔丝阵列中。在编程之后,被编程的熔丝值经历验证以确保它们被正确地编程。在大批量制造(HVM)测试期间对秘密熔丝值的验证要求读取熔丝而不损坏它们的机密性的能力。例如,已经被烧制到熔丝中的加密密钥在HVM期间需要被验证而不明显地暴露存储的密钥。该问题的常规解决方案会使用管芯上的电路计算熔丝位的散列,并且读取来自芯片的该散列值以用于熔丝验证。因为散列是单向功能,因此它们允许在不暴露原始熔丝值的情况下的熔丝验证。然而,常规的散列电路(诸如SHA-256)占据相当大的管芯面积,这对于仅在测试时或在对消费者退回的失效零件的调试期间操作的一次性使用的电路是不合理的。

附图说明

在附图中的诸个图中通过示例而非限制地示出各个实施例:

图1A是根据一个实施例的系统的框图;

图1B是根据一个实施例的系统的框图;

图1C是根据一个实施例的系统的框图;

图2是根据一个实施例的处理器的框图;

图3A示出根据一个实施例的紧缩数据类型;

图3B示出根据一个实施例的紧缩数据类型;

图3C示出根据一个实施例的紧缩数据类型;

图3D示出根据一个实施例的指令编码;

图3E示出根据一个实施例的指令编码;

图3F示出根据一个实施例的指令编码;

图4A示出根据一个实施例的处理器微架构的要素;

图4B示出根据一个实施例的处理器微架构的要素;

图5是根据一个实施例的处理器的框图;

图6是根据一个实施例的计算机系统的框图;

图7是根据一个实施例的计算机系统的框图;

图8是根据一个实施例的计算机系统的框图;

图9是根据一个实施例的芯片上系统的框图;

图10是根据一个实施例的处理器的框图;

图11是根据一个实施例的IP核开发系统的框图;

图12示出根据一个实施例的架构仿真系统。

图13示出根据一个实施例的用于转换指令的系统。

图14是大批量制造(HVM)熔丝验证微架构的一个实施例。

图15示出根据一个实施例的依赖熔丝数据尺寸的前缀和填补。

图16示出32b/64b的基于Simon的熔丝散列电路的一个实施例。

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