[发明专利]一种BLE芯片的射频性能测试方法在审
| 申请号： | 201711107259.6 | 申请日： | 2017-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN107959534A | 公开（公告）日： | 2018-04-24 |
| 发明（设计）人： | 陈基源;陈华辉 | 申请（专利权）人： | 芯海科技（深圳）股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/309 |
| 代理公司： | 深圳市凯达知识产权事务所44256 | 代理人： | 刘大弯 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种BLE芯片的射频性能测试方法，该方法通过主控上位机控制的自动化夹具，把BLE芯片放入最小系统demo板的芯片座，demo板上电工作并发出蓝牙信号；蓝牙测试模块根据连接后的数据通信计算待测BLE芯片的无线通信的丢包率和RSSI变动范围；然后对比测试数据，主控上位机得出测试结果进行处理；同时，主控上位机保存数据成数据库。本发明能够对BLE芯片进行便捷准确的射频性能验证测试，可以判断BLE芯片的无线收发性能是否正常，用于快速评估芯片的射频性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ble 芯片 射频 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种BLE芯片的射频性能测试方法，其特征在于该方法包括如下步骤：101、主控上位机控制的自动化夹具，把BLE芯片放入最小系统demo板的芯片座，demo板上电工作并发出蓝牙信号；102、BLE测试架作为蓝牙测试模块，根据设备名、物理地址等识别接收demo板对应的蓝牙信号；103、蓝牙测试模块根据连接后的数据通信计算待测BLE芯片的无线通信的丢包率和RSSI变动范围；104、蓝牙测试模块输出测试数据到主控上位机；105、对比测试数据，主控上位机得出测试结果，根据测试结果控制自动化夹具将芯片放入合格或者不合格的槽位；106、主控上位机保存数据成数据库。
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