[发明专利]射线辐射场剂量率测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201711092590.5 申请日: 2017-11-08
公开(公告)号: CN108089219B 公开(公告)日: 2019-09-27
发明(设计)人: 薛院院;王祖军;陈伟;刘敏波;姚志斌;何宝平;张凤祁;盛江坤;马武英;董观涛;金军山 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01T1/08 分类号: G01T1/08
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 陈广民
地址: 710024 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于辐射场均匀性测量技术领域,具体涉及一种射线辐射场剂量率测量装置及测量方法。该测量装置包括图像传感器、辐照板、测试评估板和计算机;所述图像传感器安装于辐照板上,用于在射线辐射场下连续采集图像;所述辐照板与测试评估板相连,所述测试评估板与计算机相连,所述计算机上安装有图像处理系统。本发明可以对测量数据进行自动处理,极大的提高了测量速度,减少了射线对测量装置CMOS图像传感器的损伤时间,提高了测量装置的寿命,解决了现有的测量装置存在的测量成本高、精度差的技术问题。
搜索关键词: 测量装置 辐照 测试评估 射线辐射 剂量率测量 图像传感器 测量 计算机 图像处理系统 均匀性测量 测量成本 测量数据 连续采集 自动处理 辐射场 射线 损伤 图像
【主权项】:
1.一种射线辐射场剂量率测量方法,其特征在于,包括以下步骤:1)建立暗信号尖峰比例与射线辐射场剂量率之间的关系拟合图谱;1.1)在距离辐射源不同距离的多个位置标定射线辐射场剂量率;1.2)使用射线辐射场剂量率测量装置在不同标定位置处连续采集图像;1.3)将采集到的图像输入图像处理系统中,计算暗信号尖峰比例,并建立暗信号尖峰比例与标定的射线辐射场剂量率之间的关系拟合图谱;2)将射线辐射场剂量率测量装置放置于射线辐射场中使射线垂直入射图像传感器,利用图像传感器连续采集多帧图像;3)将采集到的多帧图像输入图像处理系统中,统计暗信号尖峰所占比例;4)查找步骤1)中建立的关系拟合图谱,得到图像传感器所处位置的射线辐射场剂量率。
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