[发明专利]用于安全芯片的攻击检测传感器阈值超前判别方法

摘要

本发明涉及安全芯片抗物理攻击领域，为能够快速识别出物理攻击，从而尽早执行防护措施。本发明，用于安全芯片的攻击检测传感器阈值超前判别方法，步骤如下：步骤S1为流程起始；步骤S2中，第一次检测；步骤S3中，进行下一次检测；步骤S4中，判断V1是否超出阈值；步骤S5‑S9中，判断ΔV1是否超出了标准差值ΔV；判断三次检测结果变化趋势是否相同；步骤S10‑S11中，判断ΔV2是否超出了标准差值ΔV及上两次检测的差值；步骤S12中，判断V2是否处于危险区域；步骤S13中，令V1＝V2，ΔV1＝ΔV2，执行步骤S7。步骤S14中，产生报警信号，检测结束。本发明主要应用于芯片安全检测场合。

主权项

1.一种用于安全芯片的攻击检测传感器阈值超前判别方法，其特征是，/n步骤S1为流程起始，需要先设置三个参数：阈值上限HV、阈值下限LV、标准差值ΔV；阈值上限HV为检测结果上限，高于该阈值将产生报警信号；阈值下限LV为检测结果下限，低于该阈值将产生报警信号；标准差值ΔV为连续两次检测结果的可允许最大差值，连续两次检测结果差值小于ΔV则认为检测结果正常；下一步进入步骤S2；/n步骤S2中，先进行第一次检测，设此次检测的结果为V0，进行步骤S3；/n步骤S3中，进行下一次检测，设此次检测的结果为V1，并令ΔV1＝|V1-V0|，即ΔV1为V1和V0差的绝对值，进行步骤S4；/n步骤S4中，判断V1是否超出阈值，即判断不等式LV<V1<HV是否成立，若V1超出阈值，即不等式不成立，则进行步骤S14，立即产生报警信号；若V1未超出阈值，即不等式成立，则进行步骤S5；/n步骤S5中，判断ΔV1是否超出了标准差值ΔV，即判断不等式ΔV1<ΔV是否成立，若不等式成立，则未超出，证明检测结果正常，进行步骤S6；若不成立，则超出标准差值，需要经过后续检测才可判定是否受到攻击，进行步骤S7；/n步骤S6中，令V0＝V1，即将本次检测结果保存，并作为下次检测结果的参考标准，进行步骤S3；/n步骤S7中，进行下一次检测，设此次检测的结果为V2，并令ΔV2＝|V2-V1|，即ΔV2为V2和V1差的绝对值，进行步骤S8；/n步骤S8中，判断V2是否超出阈值，即判断不等式LV<V2<HV是否成立，若V2超出阈值，即不等式不成立，则进行步骤S14，立即产生报警信号；若V2未超出阈值，即不等式成立，则进行步骤S9；/n步骤S9中，判断三次检测结果变化趋势是否相同，即判断不等式(V2-V1)*(V1-V0)>0是否成立，若不成立，则证明变化趋势不同，此时可能受到外界干扰导致检测结果出现比较大的偏差，进行步骤S6，若成立，则证明变化趋势相同，需要做后续判断，进行步骤S10；/n步骤S10中，判断ΔV2是否超出了标准差值ΔV，即判断不等式ΔV2<ΔV是否成立，若不等式成立，则未超出，证明本次检测结果正常，上一次检测结果可能存在外界因素干扰导致出错，并进行步骤S6；若不成立，则超出标准差值，需要进行进一步比较，执行步骤S11；/n步骤S11中，判断ΔV2是否超出了上两次检测的差值ΔV1，即判断不等式ΔV2<ΔV1是否成立，若不等式不成立，则超出，证明变化趋势愈加恶劣，需要立即产生报警信号，进行步骤S14；若成立，则未超出，证明变化趋势变缓，但仍处于异常状态，需要进一步判断，进行步骤S12；/n步骤S12中，判断V2是否处于危险区域，(HV-LV)为可行区域，即由阈值下限到阈值上限之间形成的区域，可行区域边界处的区域称为危险区域，边界(LV+0.1(HV-LV))称为下危险区域边界，由边界LV和边界(LV+0.1(HV-LV))构成的区域为下危险区域；边界(LV+0.9(HV-LV))称为上危险区域边界，由边界(LV+0.9(HV-LV))和边界HV构成的区域为上危险区域，判断LV<V2<(LV+0.1(HV-LV))或(LV+0.9(HV-LV))<V2<HV二式是否有一个成立，若存在一个不等式成立，则V2处于危险区域；若V2未处于危险区域，即两个不等式都不成立，此种结果处于中间状态，无法从趋势上立即得出结论，需要进行后续检测才可判断，进行步骤S13，若V2处于危险区域，即两个不等式其中一个成立，则证明检测结果已接近边界，需要立即产生报警信号，执行步骤S14；/n步骤S13中，令V1＝V2，ΔV1＝ΔV2，以保存此次检测结果，并作为下次检测结果的参照，执行步骤S7；/n步骤S14中，产生报警信号，检测结束。/n