[发明专利]基于发光功能型薄膜的超分辨成像方法和装置有效
申请号: | 201711023427.3 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN107907511B | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 杨青;庞陈雷;刘小威;刘旭 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N21/62 | 分类号: | G01N21/62 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310013 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开一种基于发光功能型薄膜的超分辨成像方法,包括:1)在衬底上镀制多边形的发光薄膜,并在发光薄膜镀制镀制折射率高于1.4的表层薄膜;2)将微纳样品放置在表层薄膜上或在发光薄膜上制备微纳结构;3)通过外部激发发光薄膜不同边的波导,不同波矢方向的光场将被耦合进所述表层薄膜内并进行传输,传输光场的倏逝场与微纳样品或微纳结构相互作用,获取微纳样品或微纳结构的远场光学成像,并对像进行频谱拼接重构,得到对应的超分辨成像信息。本发明还公开一种基于发光功能型薄膜的超分辨成像装置。本发明可以实现对来自发光薄膜波导光场的高效耦合,提供大波矢照明倏逝场,能够抑制背景噪声,改善成像质量。 | ||
搜索关键词: | 基于 发光 功能型 薄膜 分辨 成像 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于发光功能型薄膜的超分辨成像方法,其特征在于,包括:1)在衬底上镀制多边形的发光薄膜,并在发光薄膜镀制折射率高于1.4的表层薄膜;2)将微纳样品放置在表层薄膜上或在发光薄膜上制备微纳结构;3)通过外部激发发光薄膜不同边的波导,不同波矢方向的光场将被耦合进所述表层薄膜内并进行传输,传输光场的倏逝场与微纳样品或微纳结构相互作用,获取微纳样品或微纳结构的远场光学成像,并对像进行频谱拼接重构,得到对应的超分辨成像信息。
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