[发明专利]一种涂层物相及晶体结构的分析方法在审
| 申请号： | 201710977917.0 | 申请日： | 2017-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN107515231A | 公开（公告）日： | 2017-12-26 |
| 发明（设计）人： | 王成勇;袁尧辉;郑李娟;杨简彰;赖志伟 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N1/28 |
| 代理公司： | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙)44349 | 代理人： | 陶远恒 |
| 地址： | 510006 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种涂层物相及晶体结构的分析方法，包括以下步骤S1准备可溶解于酸性液体的金属薄片作为基体，将其装夹于涂层设备中，将需要分析的涂层涂镀于基体表面；S2配置可溶解金属的酸性溶液，并将涂层后的金属薄片全部放入酸性溶液中进行溶解；S3待金属薄片全部溶解于酸性溶液中后，采用过滤装置过滤溶有金属薄片的酸性液体以获得涂层粉末；S4用去离子水冲洗过滤装置上的涂层粉末，检测过滤装置过滤出的液体PH值为6～7后，将获得的涂层粉末放入干燥装置中进行干燥；S5采用研磨装置，对干燥后的涂层粉末进行研磨；S6将研磨后的涂层粉末进行X射线衍射分析，并根据获得的衍射图谱。本发明分析方法简便，结果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 涂层 晶体结构 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种涂层物相及晶体结构的分析方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：涂层制备：准备可溶解于酸性液体的金属薄片作为基体，将其装夹于涂层设备中，将需要分析的涂层涂镀于基体表面；S2：配置可溶解金属的酸性溶液，并将涂层后的金属薄片全部放入酸性溶液中进行溶解；S3：待金属薄片全部溶解于酸性溶液中后，采用过滤装置过滤溶有金属薄片的酸性液体以获得涂层粉末；S4：用去离子水冲洗过滤装置上的涂层粉末，检测过滤装置过滤出的液体PH值为6～7后，将获得的涂层粉末放入干燥装置中进行干燥；S5：采用研磨装置，对干燥后的涂层粉末进行研磨；S6：将研磨后的涂层粉末进行X射线衍射分析，并根据获得的衍射图谱，对涂层XRD物相和晶体结构进行分析。
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