[发明专利]一种测量RFID标签耦合性能参数的方法及装置有效
| 申请号： | 201710972735.4 | 申请日： | 2017-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN107863992B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 韩冬桂;李达;燕怒;刘芳;李红军;朱鑫 | 申请（专利权）人： | 武汉纺织大学 |
| 主分类号： | H04B5/00 | 分类号： | H04B5/00 |
| 代理公司： | 武汉泰山北斗专利代理事务所(特殊普通合伙) 42250 | 代理人： | 程千慧 |
| 地址： | 430073 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量RFID标签耦合性能参数的方法及装置，本发明的方法通过改变目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度或读写器的位置，测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响。本发明的方法中目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度这三个参数均可调，可以最大化的对标签摆放和布局进行最优化的模拟和实验，分别测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响，便于操作，准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 rfid 标签 耦合 性能参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测量RFID标签耦合性能参数的方法，其特征在于，通过改变目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度或RFID读写装置的发射角度这三个参数，测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响。
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