[发明专利]一种基于OCT图像的材料内在光谱特征提取方法

摘要

本发明公开了一种基于OCT图像的材料内在光谱特征提取方法。分别将平面反射镜和待测对象垂直于光轴地正对放置在OCT扫描装置的镜头正前方，使用OCT扫描装置在沿光轴不同探测位置处的CCD原始断层图像，傅立叶变换后使用光谱特征提取算法提取得到光谱矩阵，利用平面反射镜的光谱矩阵整合成为校正矩阵，将平面反射镜和待测对象的光谱矩阵结合校正矩阵，提取获得待测对象的目标区域的光谱矩阵。在本发明中，针对OCT光谱仪中频率分辨率下降的问题，提出了一套系统的校正方法，能够将不同焦距的光谱信号进行强度校正，并能通过多个正交窗口提高时间和频率分辨率。

主权项

一种基于OCT图像的材料内在光谱特征提取方法，其特征在于包括以下步骤：1)将平面反射镜垂直于光轴地正对放置在OCT扫描装置的镜头正前方，使用OCT扫描装置采集平面反射镜在沿光轴距离OCT扫描装置的OCT物镜不同探测位置处的CCD原始断层图像；2)针对一幅CCD原始断层图像进行傅立叶变换，在变换后的图像中找到反射最强的图像行作为反射镜的反射面位置，并进行标记，再使用光谱特征提取算法提取反射面位置的光谱矩阵；3)针对不同距离位置对应的各幅CCD原始断层图像重复步骤2)完成反射镜位置的光谱提取，然后将多个光谱进行整合成为校正矩阵；4)将待测对象放置在OCT扫描装置的镜头正前方，使用OCT扫描装置采集待测对象在沿光轴距离OCT扫描装置的OCT物镜不同探测位置处的CCD原始断层图像，再对每一幅CCD原始断层图像进行傅立叶变换，使用光谱特征提取算法提取待测对象的光谱矩阵；5)将平面反射镜和待测对象的光谱矩阵结合校正矩阵，提取获得待测对象的目标区域的光谱矩阵。