[发明专利]独居石的阴极发光成像方法在审

专利信息
申请号: 201710866383.4 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN107727677A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 杨赛红;闫欣;陈意;苏本勋;谷立新;唐旭 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01N23/225 分类号: G01N23/225
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司11403 代理人: 王安娜,李翔
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种独居石的阴极发光成像方法,包括对独居石矿物颗粒进行制靶,得到树脂靶;对所述树脂靶抛光,使独居石露出于所述树脂靶;在露出于所述树脂靶的独居石进行镀膜,将镀膜面朝上,并用导电胶将镀膜后的树脂靶固定在场发射扫描电镜的样品台上,将场发射扫描电镜的样品仓抽真空,使所述树脂靶处于真空条件下;选择阴极发光探头的工作距离;选择电子束的加速电压;选择电子束的束斑大小;选择初级增益值;获取独居石单颗粒的图像。本发明对独居石进行高分辨阴极发光发光成像,解决了独居石一直以来阴极发光整体黑的问题,达到清晰地反映独居石的内部结构特征,起到了独居石原位微区定年精准选点的目的。
搜索关键词: 独居石 阴极 发光 成像 方法
【主权项】:
一种独居石的阴极发光成像方法,其特征在于,包括以下步骤:对独居石矿物颗粒进行制靶,得到树脂靶;对所述树脂靶抛光,使独居石露出于所述树脂靶;在露出于所述树脂靶的独居石进行镀膜,将镀膜面朝上,并用导电胶将镀膜后的树脂靶固定在场发射扫描电镜的样品台上,将场发射扫描电镜的样品仓抽真空,使所述树脂靶处于真空条件下;选择独居石树脂靶表面的工作距离;选择电子束的加速电压;选择电子束的束斑大小;选择光电倍增管的高压值;获取独居石单颗粒的图像。
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