[发明专利]操作三角测量法激光扫描器以识别工件的表面特性的方法

摘要

操作至少一个三角测量法激光扫描器以识别待通过至少一个三角测量法激光扫描器测量的工件的表面特性的方法、计算机可读介质和测量系统。该激光扫描器具有CMOS传感器芯片、光学成像单元和在该工件上生成激光线的激光线光源；图像中在CMOS传感器芯片上生成的数据被减少到如下的数据量，量减少后的数据仅包括激光线的这些像点的实际侧向位置的数据和针对激光线的这些像点中各像点的至少一个质量判据的数据，质量判据是沿一定方向的强度分布测量值，该方向横向于CMOS传感器芯片上激光线的这些像点的范围的局部方向；并且相对于与条形码和/或检测码信息和/或纹理信息的存在相关的质量判据，通过至少一个评估单元来分析该量减少后的数据。

主权项

用于操作至少一个三角测量法激光扫描器(1)以识别有待通过该至少一个三角测量法激光扫描器(1)测量的工件(7)的表面特性的方法(40)，该方法包括以下步骤：·提供至少一个三角测量法激光扫描器(1)，该三角测量法激光扫描器具有CMOS传感器芯片(11)、光学成像单元(9)、和用于在该有待测量的工件(7)上生成激光线的激光线光源(3)，该CMOS传感器芯片(11)和该激光线光源(3)相对于该光学成像单元(9)以Scheimpflug条件来安排；·提供工件(7)，该工件的有待测量的表面具有带有不同纹理(15)的至少两个不同区域(13，14；15)、和/或至少一个条形码和/或检测码区域(13)；·通过该至少一个三角测量法激光扫描器(1)相对于该有待测量的工件(7)的相对运动、或反之亦然来捕捉有待通过该至少一个三角测量法激光扫描器(1)测量的该工件(7)的表面(42)，借此该激光线经过该工件(7)的该表面的至少一部分，并且该激光线的像点的实际侧向位置由此被捕捉在该CMOS传感器芯片(11)上；·将图像中在该CMOS传感器芯片(11)上生成的数据量限制到减少后的数据量，该减少后的数据量仅仅包括该激光线(44)的这些像点的实际侧向位置的数据和针对所捕捉的激光线的这些像点中的每个像点的至少一个质量判据(46)的数据，该质量判据是沿一定方向的强度分布测量值，该方向横向于该CMOS传感器芯片上的该激光线的这些像点的范围的局部方向；·以大于读出该整个CMOS传感器芯片(11)的所有像素数据的最大可能时钟速率的时钟速率将该量减少后的数据传送(48)到至少一个评估单元(30)；·基于在该CMOS传感器芯片(11)上捕捉的该激光线的这些像点，通过该至少一个评估单元(30)来生成该有待测量的工件(7)的表面坐标(50)，这些表面坐标是基于这些像点的实际捕捉位置相对于该激光线的这些像点的标称位置的侧向偏移量来计算的；·就存在条形码和/或检测码信息(13)和/或纹理信息(15)与否而言，通过该至少一个评估单元(30)来相对于该质量判据分析该量减少后的数据(52)。