[发明专利]计算砂壤地层含水率分布的方法、装置、介质和系统有效
申请号: | 201710825361.3 | 申请日: | 2017-09-14 |
公开(公告)号: | CN107632138B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 杨俊哲;崔凡;郭洋楠;吴哲宇 | 申请(专利权)人: | 中国神华能源股份有限公司;神华神东煤炭集团有限责任公司;中国矿业大学(北京) |
主分类号: | G01N33/24 | 分类号: | G01N33/24;G01S13/88 |
代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人: | 崔华 |
地址: | 100011 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种计算砂壤地层含水率分布的方法、装置、介质和系统,方法包括:对地层进行雷达探测并获取雷达信号;将所述雷达信号换算为地层深度数据;根据所述地层深度数据将所述地层分为第一地层和第二地层;分别采用第一计算含水率方法和第二计算含水率方法计算所述第一地层和所述第二地层的含水率分布,得到第一地层含水率分布和第二地层含水率分布;将所述第一地层含水率分布与所述第二地层含水率分布组合,形成所述地层完整的含水率分布。本发明解决了现有技术中的计算含水率分布的方法无法提供准确、连续的含水率分布结果的问题。 | ||
搜索关键词: | 计算 地层 含水率 分布 方法 装置 介质 系统 | ||
【主权项】:
1.一种计算砂壤地层含水率分布的方法,其特征在于,包括:对地层进行雷达探测并获取雷达信号;将所述雷达信号换算为地层深度数据;根据所述地层深度数据将所述地层分为第一地层和第二地层;分别采用第一计算含水率方法和第二计算含水率方法计算所述第一地层和所述第二地层的含水率分布,得到第一地层含水率分布和第二地层含水率分布;将所述第一地层含水率分布与所述第二地层含水率分布组合,形成所述地层完整的含水率分布;所述第一计算含水率方法为振幅包络平均值方法,采用所述振幅包络平均值方法计算所述第一地层含水率分布;所述第二计算含水率方法为自回归滑动平均方法,采用所述自回归滑动平均方法计算所述第二地层含水率分布。
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