[发明专利]陶瓷外壳磨抛方法及装置在审
申请号: | 201710823141.7 | 申请日: | 2017-09-13 |
公开(公告)号: | CN107584375A | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 于斐;彭博 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | B24B19/22 | 分类号: | B24B19/22;B24B47/22;H01L27/148 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所13120 | 代理人: | 米文智 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种陶瓷外壳磨抛方法及装置,涉及陶瓷封装技术领域,包括以下步骤确定待加工陶瓷外壳的待磨抛区域;在所述待磨抛区域制作定位标识;利用所述定位标识对所述待磨抛区域进行磨抛处理。本发明通过设计陶瓷外壳磨抛方法,首先确定待磨抛区域,然后在待磨抛区域制作定位标识,从而确定磨抛区域,对陶瓷外壳进行磨抛时,利用定位标识精准定位磨抛区域,保证在磨抛时只限定在磨抛区域,不损伤磨抛区域之外的部分,达到最好的磨抛效果。 | ||
搜索关键词: | 陶瓷 外壳 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种陶瓷外壳磨抛方法,其特征在于,包括以下步骤:确定待加工陶瓷外壳的待磨抛区域;在所述待磨抛区域制作定位标识;利用所述定位标识对所述待磨抛区域进行磨抛处理。
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