[发明专利]引脚平整度检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710714294.8 申请日: 2017-08-18
公开(公告)号: CN107328373A 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 何鹏 申请(专利权)人: 深圳市伙伴科技有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 深圳市精英专利事务所44242 代理人: 冯筠
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种引脚平整度检测系统,用于检测元器件的若干组引脚平整度,引脚平整度检测系统包括内部设有光源的安装支架,还包括至少一对支撑平面,至少一对反射棱镜,以及至少一对相机,支撑平面的上表面为一平整的水平面,元器件的引脚支撑在支撑平面的上表;该对反射棱镜设于支撑平面的内侧且关于安装支架的轴线对称分布,光源的光线照射至反射棱镜表面,反射光线穿过支撑平面与引脚之间的间隙;相机用于拍摄引脚与支撑平面之间的间距,该对相机设于支撑平面的外侧且关于安装支架的轴线对称分布。它的优点是相机对不同引脚拍摄时,都是拍摄到引脚的最大轮廓,因此不同引脚检测的基准是一样的,提高了引脚平整度检测的准确度。
搜索关键词: 引脚 平整 检测 系统 方法
【主权项】:
一种引脚平整度检测系统,用于检测元器件的若干组引脚平整度,其中每组引脚包括平行的若干引脚,引脚平整度检测系统包括内部设有光源的安装支架,其特征在于,还包括:至少一对支撑平面,支撑平面的上表面为一平整的水平面,元器件的引脚支撑在支撑平面的上表;至少一对反射棱镜,该对反射棱镜设于支撑平面的内侧且关于安装支架的轴线对称分布,所述光源的光线照射至反射棱镜表面,反射光线穿过支撑平面与引脚之间的间隙;至少一对相机,所述相机用于拍摄引脚与支撑平面之间的间距,该对相机设于支撑平面的外侧且关于安装支架的轴线对称分布。
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