[发明专利]一种ATE测试差分信号电平的方法在审

专利信息
申请号: 201710701801.4 申请日: 2017-08-16
公开(公告)号: CN107390113A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 顾春华;汤雪飞;季海英;顾良波;王锦 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海海贝律师事务所31301 代理人: 范海燕
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种ATE测试差分信号电平的方法,包括以下步骤有将器件的差分信号的正端和负端分别接在ATE测试系统的指定通道上;设置器件差分信号输出,预设Vt电压为器件差分信号的输出工模电压,差分信号的正端和负端分别输出相应的电压VSE+和VSE‑;设置变量Vt的循环语句;定义一个数据结构;测试动作的相关设置;基于循环语句最初始的Vt值,分别得到第一对差分信号对的正端VSE+和负端VSE‑的电压;VSE+和VSE‑分别与Vt进行运算;将Vt值在重新返回到程序设定当中,继续进行计算,通过此种方法能够快速、准确的得出需要量测差分信号在满足100Ω终端电阻条件下的输出差模和共模电压,而不需要借助在差分信号上实际增加100Ω的跨接电阻,增加外部电路和硬件成本。
搜索关键词: 一种 ate 测试 信号 电平 方法
【主权项】:
一种ATE测试差分信号电平的方法,其特征在于:包括以下步骤:S10:将器件的差分信号的正端和负端分别接在ATE测试系统的指定通道上;S20:设置器件差分信号输出,预设Vt电压为器件差分信号的输出工模电压,差分信号的正端和负端分别输出相应的电压VSE+和VSE‑;S30:设置变量Vt的循环语句;S40:定义一个数据结构;S50:测试动作的相关设置;S60:基于循环语句最初始的Vt值,执行一次测量动作,分别得到第一对差分信号对的正端VSE+和负端VSE‑的电压,将值放入到数据结构中;S70:VSE+和VSE‑分别与Vt进行运算;S80:判断测试结果,若不符合则调整Vt值后再重新返回到程序设定当中,继续测量按照步骤S70进行计算;若符合则结束运算。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司,未经上海华岭集成电路技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710701801.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top