[发明专利]一种ATE测试差分信号电平的方法在审
申请号: | 201710701801.4 | 申请日: | 2017-08-16 |
公开(公告)号: | CN107390113A | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 顾春华;汤雪飞;季海英;顾良波;王锦 | 申请(专利权)人: | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海海贝律师事务所31301 | 代理人: | 范海燕 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种ATE测试差分信号电平的方法,包括以下步骤有将器件的差分信号的正端和负端分别接在ATE测试系统的指定通道上;设置器件差分信号输出,预设Vt电压为器件差分信号的输出工模电压,差分信号的正端和负端分别输出相应的电压VSE+和VSE‑;设置变量Vt的循环语句;定义一个数据结构;测试动作的相关设置;基于循环语句最初始的Vt值,分别得到第一对差分信号对的正端VSE+和负端VSE‑的电压;VSE+和VSE‑分别与Vt进行运算;将Vt值在重新返回到程序设定当中,继续进行计算,通过此种方法能够快速、准确的得出需要量测差分信号在满足100Ω终端电阻条件下的输出差模和共模电压,而不需要借助在差分信号上实际增加100Ω的跨接电阻,增加外部电路和硬件成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 ate 测试 信号 电平 方法 | ||
【主权项】:
一种ATE测试差分信号电平的方法,其特征在于:包括以下步骤:S10:将器件的差分信号的正端和负端分别接在ATE测试系统的指定通道上;S20:设置器件差分信号输出,预设Vt电压为器件差分信号的输出工模电压,差分信号的正端和负端分别输出相应的电压VSE+和VSE‑;S30:设置变量Vt的循环语句;S40:定义一个数据结构;S50:测试动作的相关设置;S60:基于循环语句最初始的Vt值,执行一次测量动作,分别得到第一对差分信号对的正端VSE+和负端VSE‑的电压,将值放入到数据结构中;S70:VSE+和VSE‑分别与Vt进行运算;S80:判断测试结果,若不符合则调整Vt值后再重新返回到程序设定当中,继续测量按照步骤S70进行计算;若符合则结束运算。
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