[发明专利]晶硅电池片的制造方法有效

专利信息
申请号: 201710505383.1 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN107316919B 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 王斌;何悦;周东;王在发;任勇 申请(专利权)人: 尚德太阳能电力有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 王洁;郑暄
地址: 201114 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种晶硅电池片的制造方法,其中,所述的制造方法包括管式PECVD镀膜步骤,所述的管式PECVD镀膜步骤包括在管式PECVD中进行N2O处理和至少两次的氮化硅层镀膜,在第一次氮化硅层镀膜之后进行所述的N2O处理,所述的晶硅电池片在烧结后无发白现象且具有抗PID性能。采用了该发明中的晶硅电池片的制造方法,在保持膜厚折射率不变的情况下,将原来的单层SiNx膜变更为双层或多层SiNx膜(内层高折射率SiN1,外层低折射率SiN2),同时在SiN1之后加入N2O对表面进行氧化吹扫清洁,不仅可以解决烧结后发白问题,同时由于N2O本身也具有氧化能力,也带来抗PID功能提升的附加效益。
搜索关键词: 电池 制造 方法
【主权项】:
1.一种晶硅电池片的制造方法,其特征在于,所述的制造方法包括管式PECVD镀膜步骤,所述的管式PECVD镀膜步骤包括在管式PECVD中进行N2O处理和至少两次的氮化硅层镀膜,在第一次氮化硅层镀膜之后进行所述的N2O处理,所述的晶硅电池片在烧结后无发白现象且具有抗PID性能。
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