[发明专利]用于电流测量或校准的装置和相关方法有效
申请号: | 201710483732.4 | 申请日: | 2017-06-23 |
公开(公告)号: | CN107543958B | 公开(公告)日: | 2021-08-20 |
发明(设计)人: | K·W·弗纳尔德 | 申请(专利权)人: | 硅实验室公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25;G01R35/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵志刚;赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开用于电流测量和校准的装置和相关方法。一种装置,包括集成电路(IC)。IC包括电流源和耦接到电流源的开关电容器电阻器,响应于控制信号,该电流源用于吸收或供应输出电流。该装置进一步包括控制器,该控制器耦接以从开关电容器电阻器两端的电压得到控制信号,该控制器进一步用于向开关电容器电阻器提供开关控制信号。 | ||
搜索关键词: | 用于 电流 测量 校准 装置 相关 方法 | ||
【主权项】:
一种装置,包括:集成电路即IC,所述集成电路包括:电流源,响应于控制信号,所述电流源用于吸收或供应输出电流;以及开关电容器电阻器,所述开关电容器电阻器耦接到所述电流源;以及控制器,所述控制器耦接以从所述开关电容器电阻器两端的电压得到所述控制信号,所述控制器进一步用于向所述开关电容器电阻器提供开关控制信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于硅实验室公司,未经硅实验室公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710483732.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于不间断供电的母线电压检测与调理电路
- 下一篇:自动化电度表