[发明专利]光学测量装置及方法有效
| 申请号： | 201710414314.X | 申请日： | 2017-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN106990573B | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 徐红巧;黄强;王书锋;许金波 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 汪源;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学测量装置及方法，该装置包括测试背板、光线发射器、中心点探测器和移动装置，移动装置设置于测试背板上，移动装置上设置有被测样品；光线发射器，用于在被测样品上显示第一中心点，第一中心点为测试背板的中心点；中心点探测器，用于探测出第二中心点并在被测样品上显示第二中心点，第二中心点为被测样品的中心点；移动装置，用于移动被测样品以使第一中心点和第二中心点重合。本发明能够准确地实现被测样品和测试背板的中心点对位，有效减小了光学测试结果误差，从而提高了光学测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光学测量装置，其特征在于，包括测试背板、光线发射器、中心点探测器和移动装置，所述移动装置设置于所述测试背板上，所述移动装置上设置有被测样品；所述光线发射器，用于在所述被测样品上显示第一中心点，所述第一中心点为所述测试背板的中心点；所述中心点探测器，用于探测出第二中心点并在所述被测样品上显示第二中心点，所述第二中心点为所述被测样品的中心点；所述移动装置，用于移动所述被测样品以使所述第一中心点和所述第二中心点重合。
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