[发明专利]劣化诊断装置有效
| 申请号： | 201710403310.1 | 申请日： | 2017-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN107479527B | 公开（公告）日： | 2019-11-01 |
| 发明（设计）人： | 栗本昌宪;岩上祐希;西马由岳;矢内隆之 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种劣化诊断装置。当在相同元器件中存在个体差异、在元器件间劣化速度存在差异的元器件、或在自身的芯片内不具有EEPROM等非易失性存储器的元器件混在一起时，不存在能恰当地对因历时变化等引起的劣化状态进行诊断的劣化诊断装置，因此，对于低精度或历时老化程度严重、且不具有校正功能的电子元器件(5a)，将用于对其精度、性能劣化进行评价、校正的工作原理(方法)制作入劣化诊断装置(100)，并在产品出货后的产品使用时，使用所制作的劣化判定单元来对劣化状态进行诊断。 | ||
| 搜索关键词： | 诊断 装置 | ||
【主权项】：
1.一种劣化诊断方法，其特征在于，具有作为对象的电子元器件(5a)在处于未劣化状态下相对于参照对象的输出信息、以及作为对象的电子元器件在规定的使用时刻下相对于参照对象处于劣化状态下的输出信息，接收所述电子元器件(5a)相对于参照对象的输出信号，并基于所述未劣化状态下的输出信息与所述劣化状态下的输出信息，来对所述电子元器件(5a)的劣化状态进行评价诊断，所述电子元器件(5a)为电流检测电路，保有根据所述电子元器件(5a)的劣化状态对所述电子元器件(5a)的测定值进行校正的程序，并根据所述电子元器件(5a)的劣化状态，对所述电子元器件(5a)的测定值进行校正。
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