[发明专利]劣化诊断装置

权利要求书

1.一种劣化诊断方法，其特征在于，

具有作为对象的电子元器件(5a)在处于未劣化状态下相对于参照对象的输出信息、以及作为对象的电子元器件在规定的使用时刻下相对于参照对象处于劣化状态下的输出信息，接收所述电子元器件(5a)相对于参照对象的输出信号，并基于所述未劣化状态下的输出信息与所述劣化状态下的输出信息，来对所述电子元器件(5a)的劣化状态进行评价诊断，所述电子元器件(5a)为电流检测电路，保有根据所述电子元器件(5a)的劣化状态对所述电子元器件(5a)的测定值进行校正的程序，并根据所述电子元器件(5a)的劣化状态，对所述电子元器件(5a)的测定值进行校正。

2.一种劣化诊断装置(100)，其特征在于，包括：

参照对象生成装置(51)，该参照对象生成装置(51)生成参照对象；非易失性存储器(57)，该非易失性存储器(57)存储作为对象的电子元器件(5a)相对于所述参照对象处于未劣化状态下的输出信息、以及作为对象的电子元器件(5a)在规定的使用时刻下相对于所述参照对象处于劣化状态下的输出信息；以及控制装置(52)，该控制装置(52)接收所述电子元器件(5a)根据来自所述参照对象生成装置(51)的参照对象所产生的输出，并根据存储于所述非易失性存储器(57)的所述未劣化状态下的输出信息、与所述劣化状态下的输出信息，对所述电子元器件(5a)的劣化状态进行诊断，所述电子元器件(5a)为电流检测电路，所述非易失性存储器(57)中保有根据所述电子元器件(5a)的劣化状态对所述电子元器件(5a)的测定值进行校正的程序，并根据所述电子元器件(5a)的劣化状态，对所述电子元器件(5a)的测定值进行校正。

3.如权利要求2所述的劣化诊断装置(100)，其特征在于，

所述电子元器件(5a)为不具有自我校正功能的电子元器件，在所述非易失性存储器(57)中存储有所述未劣化状态下的输出信息、利用赋予了温度和气压这样的各种外部环境的加速试验对性能劣化进行评价后的所述劣化状态下的输出信息、以及考虑了外部环境影响的校正参数及校正算法，在所述控制装置(52)中，基于所述未劣化状态下的输出信息、所述劣化状态下的输出信息及实际使用时的测定结果的差分信息，对所述电子元器件(5a)的劣化状态进行诊断。

4.如权利要求2或3所述的劣化诊断装置(100)，其特征在于，

使用条件参照对象表与插值参数表，从而在所述控制装置(52)中，对所述电子元器件(5a)的劣化状态进行诊断，所述条件参照对象表以所述电子元器件(5a)的使用条件作为索引存储有未劣化状态下的期望值，所述插值参数表利用劣化特性表来生成，该劣化特性表利用以产品寿命作为劣化上限的条件参照对象表对每个相当于各历时变化的劣化点进行测定而得。

5.如权利要求3所述的劣化诊断装置(100)，其特征在于，

具备通信接口(58)，对于所述电子元器件(5a)在使用时的外部使用条件、测定值以及相对于所述电子元器件(5a)的输出的校正结果，以离线方式对校正对象的劣化状况、外部使用条件依赖性进行验证，并能对写入至所述非易失性存储器的校正参数进行更新。

6.如权利要求2所述的劣化诊断装置，其特征在于，

以多个所述电子元器件(5a)作为对象，对多个所述电子元器件(5a)的各自的劣化状态进行诊断。