[发明专利]等离子体发射光谱法检测水中痕量金属离子污染物的方法在审
| 申请号： | 201710398077.2 | 申请日： | 2017-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN107084973A | 公开（公告）日： | 2017-08-22 |
| 发明（设计）人： | 杨勇;张延展;龚超 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人： | 赵伟,李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种等离子体发射光谱法检测水中痕量金属离子污染物的方法；通过在反应器的平面高压电极间加入高压脉冲电源，利用光线采集微孔放电发射的光谱；通过将光谱的特征谱线与已有谱线进行对比，得到水中痕量金属离子污染物的种类；通过将光谱的谱峰强度与已有浓度拟合曲线对比，得到水中痕量金属离子污染物的浓度；在反应器里采用板孔板的电极来实现放电，平面高压电极设置在主室的两侧，带孔绝缘膜片电极设置在主室的中间；本发明提供的方法和反应器提高了水中痕量金属离子污染物检测的时效性、检测准确度和精度；降低了检测成本，缩短了检测周期。 | ||
| 搜索关键词： | 等离子体 发射光谱 检测 水中 痕量 金属 离子 污染物 方法 | ||
【主权项】：
一种等离子体发射光谱法检测水中痕量金属离子污染物的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)利用高压脉冲电源电极在待检测液体中电晕放电以产生等离子体光源；(2)在待测液体中对等离子体光源进行光谱检测，获取特征谱线；(3)根据特征谱线的波长确定待检测液体中金属离子的种类；(4)根据特征谱线的谱峰强度的变化进行浓度直线拟合，以确定待检测液体中的金属离子的浓度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学，未经华中科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710398077.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种试剂盘
- 下一篇：一种用于化学发光免疫分析仪的加样系统
