[发明专利]一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置有效
| 申请号： | 201710343750.2 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107290345B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 吕东东;张胜森;邓标华 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置，其包括：1)采集显示面板的显示画面，并提取该显示画面的缺陷特征属性向量d；2)提供一缺陷特征属性描述集合M，该缺陷特征属性描述集合M包括多种缺陷类型的特征属性描述向量m；将该缺陷特征属性向量d分别与每种缺陷类型的特征属性描述向量m进行卷积，生成一组卷积值；其中，最大的卷积值对应的缺陷类型即为该缺陷特征属性向量d的缺陷类型。本发明通过自动提取显示面板的缺陷特征信息，及自动识别显示缺陷的数量及类型，实现了显示面板的缺陷识别、等级判定的自动化程度，能极大的提升显示面板缺陷识别和等级判定的检测效率和精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 aoi 显示 面板 缺陷 分类 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法，其特征在于，包括以下步骤：1)采集显示面板的显示画面，并提取该显示画面的缺陷特征属性向量d；2)提供一缺陷特征属性描述集合M，该缺陷特征属性描述集合M包括多种缺陷类型的特征属性描述向量m；将该缺陷特征属性向量d分别与每种缺陷类型的特征属性描述向量m进行卷积，生成一组卷积值；其中，最大的卷积值对应的缺陷类型即为该缺陷特征属性向量d的缺陷类型。
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