[发明专利]一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置，其包括：1)采集显示面板的显示画面，并提取该显示画面的缺陷特征属性向量d；2)提供一缺陷特征属性描述集合M，该缺陷特征属性描述集合M包括多种缺陷类型的特征属性描述向量m；将该缺陷特征属性向量d分别与每种缺陷类型的特征属性描述向量m进行卷积，生成一组卷积值；其中，最大的卷积值对应的缺陷类型即为该缺陷特征属性向量d的缺陷类型。本发明通过自动提取显示面板的缺陷特征信息，及自动识别显示缺陷的数量及类型，实现了显示面板的缺陷识别、等级判定的自动化程度，能极大的提升显示面板缺陷识别和等级判定的检测效率和精确度。

技术领域

本发明涉及显示面板检测技术领域，具体涉及到一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置。

背景技术

平面显示器具有高分辨率、高灰度以及无几何变形等优点，同时由于其体积小、重量轻和功耗低，因而被广泛的应用在人们日常使用的消费电子产品中，例如电视、电脑、手机、平板等。显示面板是平面显示器具的主体组成部分，其制造工艺复杂，而且随着显示面板的尺寸越做越大，其灰度的均匀性也越来越难控制，因此在制造过程中难免会出现各种显示缺陷，如亮点/暗点/异物亮/BL异物(背光异物)/白点/亮暗线/Mura等显示缺陷。

目前，显示面板产线上一般采用肉眼识别显示缺陷数量及类型的方式对显示面板进行等级判定，检测效率低、误检率高。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明公开一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置，通过自动提取显示面板的缺陷特征信息，及自动识别显示缺陷的数量及类型，实现了显示面板的缺陷识别、等级判定的自动化程度，能极大的提升显示面板缺陷识别和等级判定的检测效率和精确度。

为实现上述目的，本发明提供一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法，包括以下步骤：

1)采集显示面板的显示画面，并提取该显示画面的缺陷特征属性向量d；

2)提供一缺陷特征属性描述集合M，该缺陷特征属性描述集合M包括多种缺陷类型的特征属性描述向量m；将该缺陷特征属性向量d分别与每种缺陷类型的特征属性描述向量m进行乘积，生成一组乘积值；其中，

最大的乘积值对应的缺陷类型即为该缺陷特征属性向量d的缺陷类型。

进一步地，上述技术方案采用以下公式进行乘积计算：

其中，m_i是特征属性描述向量m(m₁,m₂,…m_n)(0＜m_i＜1)中的元素，为描述缺陷特征信息的加权因子，特征属性描述向量m转换成矩阵参与乘积计算；d_i是缺陷特征属性向量d(d₁,d₂,…d_n)中的元素，为各缺陷特征的实际值，缺陷特征属性向量d转换成列向量参与乘积计算。

更进一步地，上述技术方案中将该缺陷特征属性向量d分别与每种缺陷类型的特征属性描述向量m进行乘积替换成以下步骤：

提供一缺陷特征属性梯度系数集合G，该缺陷特征属性梯度系数集合G包括多种缺陷类型的特征属性梯度范围α_ij及与该多种缺陷类型的特征属性梯度范围α_ij一一对应的梯度系数因子β_ij；将该缺陷特征属性向量d分别代入到每一种缺陷类型的特征属性梯度范围α_ij中，得到多组梯度系数因子向量β；

将该多组梯度系数因子向量β分别与对应缺陷类型的特征属性描述向量m进行乘积。

更进一步地，上述技术方案采用以下公式进行乘积计算：