[发明专利]分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极的制备

摘要

本发明涉及一种分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极的制备方法，包括以下步骤：制备聚对氨基苯磺酸修饰电极、制备分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极。本发明的有益效果：分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极的制备过程简单环保无污染。此外，聚对氨基苯磺酸的引入可增加与色氨酸三维空间匹配的空腔数量，从而得到的分子印迹材料对于色氨酸对映体的识别效率显著提升。

主权项

1.制备分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极，其特征在于：步骤如下：a、制备聚对氨基苯磺酸修饰电极：采用直径为3mm的玻碳电极为工作电极，铂片为辅助电极，饱和甘汞电极为参比电极的三电极体系；称取10～20mg对氨基苯磺酸溶于20mL 0.1MpH为7.0的磷酸盐缓冲溶液中，在‑1.5～2.5V的电位窗口内，以0.1V/s的扫速采用循环伏安法制备得到聚对氨基苯磺酸修饰电极；b、制备分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极：将聚对氨基苯磺酸修饰电极浸入包括2mM L‑色氨酸和0.1M吡咯的0.1M pH为2.5～4.5的磷酸盐缓冲溶液中静置10～30min，然后在‑0.6～0.8V的电化学窗口范围内，以0.1V/s的扫速进行循环伏安扫描10圈，得到掺杂有L‑色氨酸的聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极；再将该修饰电极浸入0.1M H₂SO₄溶液中，施加0.3～0.5V的电位脱掺杂1000s得到分子印迹聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极；将分子印迹聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极置于0.1M NaOH溶液中，在0.4～1.2V的电化学窗口内进行循环伏安扫描，直到出现稳定的循环伏安曲线，得到最终的修饰电极，即分子印迹过氧化聚吡咯/聚对氨基苯磺酸修饰电极。