[发明专利]空芯保偏光子晶体光纤Verdet常数测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种空芯保偏光子晶体光纤Verdet常数测量装置及方法，装置包括光源、Y波导、待测光纤(空芯保偏光子晶体光纤)、探测器、电磁铁、直流电源、场效应管、信号发生器、锁相放大器、一维电控位移台。方法包括几个步骤，骤一、熔接待测光纤；步骤二、施加调制磁场；步骤三、使待测光纤精密移动；步骤四、根据解调值计算Verdet常数；本发明装置简单，测量灵敏度极高；本发明的普适性好，理论上可以扩展至任何保偏光纤Verdet常数的测量。

主权项

1.一种空芯保偏光子晶体光纤Verdet常数测量装置，包括光源、Y波导A、空芯保偏光子晶体光纤、电磁铁、Y波导B、探测器、信号发生器、一维电控位移台和锁相放大器；光源发出的光经过Y波导A后变成线偏光进入空芯保偏光子晶体光纤，耦合点A是Y波导A的芯片与尾纤的耦合点，设耦合角度为θ1，光在耦合点A处产生的耦合次波为W1，空芯保偏光子晶体光纤与Y波导A的尾纤以一定的对轴角度θ2进行熔接，形成熔接点B，产生的耦合次波为W2，进入空芯保偏光子晶体光纤的光在经过电磁铁的时候，发生偏振交叉耦合，产生的耦合次波为Wm，光在经过Y波导B后到达探测器，空芯保偏光子晶体光纤与Y波导B的尾纤以90°的对轴角度进行熔接，形成了熔接点C，产生的耦合次波为W3，Y波导B的芯片与尾纤的耦合点为耦合点D，设耦合角度为θ4，产生的耦合次波为W4，最后到达探测器的耦合次波为W1，W2，Wm，W3和W4，信号发生器对电磁铁的磁场进行调制，探测器探测到的被调制的信号和信号发生器的调制信号都传输到锁相放大器，一维电控位移台拖动空芯保偏光子晶体光纤做精密位移，同时锁相放大器记录变化的解调制。