[发明专利]光器件宽带频率响应值的测量方法及装置有效
| 申请号： | 201710255136.0 | 申请日： | 2017-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN107132027B | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 文俊;李伟;李明;祝宁华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;H04B10/079 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种光器件宽带频率响应值的测量方法及装置，包括以下步骤：放置待测光器件；光信号经载波相位可调的双边带调制单元转换为双边带光信号；双边带光信号经光电探测器后转换为电信号，微波幅度相位探测器探测电信号得到第一幅相响应信息；调节载波相位可调的双边带调制单元，改变载波相位，重复上述步骤，得到第二幅相响应信息；矢量分析计算单元根据事先测量的参考、第一和第二幅相响应信息得到光器件的宽带频率响应值。本发明利用双边带调制的光信号探测光器件矢量频率响应，可成倍的拓宽测量范围；双边带信号的产生降低了系统复杂度，同时消除了低频盲区及消光比有限带来的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 宽带 频率响应 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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