[发明专利]一种氮化镓位置灵敏辐射探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710205623.6 申请日: 2017-04-05
公开(公告)号: CN107093643B 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 夏晓川;崔兴柱;梁红伟;梁晓华;刘雅清 申请(专利权)人: 大连理工大学;中国科学院高能物理研究所
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/117;H01L31/18
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 温福雪
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明提供了一种氮化镓位置灵敏辐射探测器及其制备方法,属于半导体器件制备技术领域。探测器以半绝缘氮化镓单晶为衬底,其上依次生长n型氮化镓层、InGaN插入层、高阻氮化镓探测灵敏区、图形化p型氮化镓层和绝缘介质保护层;其中,InGaN插入层的宽度小于n型氮化镓层的宽度,InGaN插入层和高阻氮化镓探测灵敏区的宽度相同;多个图形化p型氮化镓层间隔排布在高阻氮化镓探测灵敏区上,图形化p型氮化镓层上制备上欧姆接触电极,n型氮化镓层上未被覆盖区域制备下欧姆接触电极;图形化p型氮化镓层外部为绝缘介质保护层。本发明解决了高性能氮化镓位置灵敏辐射探测器的制备难题,实现新型氮化镓位置灵敏辐射探测器的研制。
搜索关键词: 一种 氮化 位置 灵敏 辐射 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种氮化镓位置灵敏辐射探测器,其特征在于,所述的氮化镓位置灵敏辐射探测器以半绝缘氮化镓单晶为衬底,其上依次生长n型氮化镓层、InGaN插入层、高阻氮化镓探测灵敏区、图形化p型氮化镓层和绝缘介质保护层;其中,InGaN插入层的宽度小于n型氮化镓层的宽度,InGaN插入层和高阻氮化镓探测灵敏区的宽度相同;多个图形化p型氮化镓层间隔排布在高阻氮化镓探测灵敏区上,图形化p型氮化镓层上制备上欧姆接触电极,n型氮化镓层上未被覆盖区域制备下欧姆接触电极;图形化p型氮化镓层外部为绝缘介质保护层。
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