[发明专利]一种氮化镓位置灵敏辐射探测器及其制备方法有效
申请号: | 201710205623.6 | 申请日: | 2017-04-05 |
公开(公告)号: | CN107093643B | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 夏晓川;崔兴柱;梁红伟;梁晓华;刘雅清 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学;中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/117;H01L31/18 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 温福雪 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明提供了一种氮化镓位置灵敏辐射探测器及其制备方法,属于半导体器件制备技术领域。探测器以半绝缘氮化镓单晶为衬底,其上依次生长n型氮化镓层、InGaN插入层、高阻氮化镓探测灵敏区、图形化p型氮化镓层和绝缘介质保护层;其中,InGaN插入层的宽度小于n型氮化镓层的宽度,InGaN插入层和高阻氮化镓探测灵敏区的宽度相同;多个图形化p型氮化镓层间隔排布在高阻氮化镓探测灵敏区上,图形化p型氮化镓层上制备上欧姆接触电极,n型氮化镓层上未被覆盖区域制备下欧姆接触电极;图形化p型氮化镓层外部为绝缘介质保护层。本发明解决了高性能氮化镓位置灵敏辐射探测器的制备难题,实现新型氮化镓位置灵敏辐射探测器的研制。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮化 位置 灵敏 辐射 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种氮化镓位置灵敏辐射探测器,其特征在于,所述的氮化镓位置灵敏辐射探测器以半绝缘氮化镓单晶为衬底,其上依次生长n型氮化镓层、InGaN插入层、高阻氮化镓探测灵敏区、图形化p型氮化镓层和绝缘介质保护层;其中,InGaN插入层的宽度小于n型氮化镓层的宽度,InGaN插入层和高阻氮化镓探测灵敏区的宽度相同;多个图形化p型氮化镓层间隔排布在高阻氮化镓探测灵敏区上,图形化p型氮化镓层上制备上欧姆接触电极,n型氮化镓层上未被覆盖区域制备下欧姆接触电极;图形化p型氮化镓层外部为绝缘介质保护层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的