[发明专利]一种宽量程高阻测试电路及方法在审
| 申请号： | 201710201277.4 | 申请日： | 2017-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN106707027A | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 曾宇;曾繁建;张文灿 | 申请（专利权）人： | 漳州市东方智能仪表有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 363000 福建省漳州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种宽量程高阻测试电路，包括MCU、信号跟随器、若干标准电阻、滤波电容以及待测电阻；所述若干标准电阻的一端与所述MCU的IO口相连，所述若干标准电阻的另一端相连并连接至所述待测电阻的一端、所述滤波电容的一端、所述信号跟随器的正输入端；所述待测电阻的另一端连接至电源，所述滤波电容的另一端接地，所述信号跟随器的负输入端、输出端均连接至MCU，用以给MCU提供反馈信号。本发明电路简洁，灵活简单，测量线性度好一致性佳，可测量高达200G的电阻，无需任何电位器调节。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量程 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种宽量程高阻测试电路，其特征在于：包括MCU、信号跟随器、若干标准电阻、滤波电容以及待测电阻；所述若干标准电阻的一端与所述MCU的IO口相连，所述若干标准电阻的另一端相连并连接至所述待测电阻的一端、所述滤波电容的一端、所述信号跟随器的正输入端；所述待测电阻的另一端连接至电源，所述滤波电容的另一端接地，所述信号跟随器的负输入端、输出端均连接至MCU，用以给MCU提供反馈信号。
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