[发明专利]DNAPL在半透明颗粒材料内长期迁移过程中REV的确定方法在审

专利信息
申请号: 201710180395.1 申请日: 2017-03-24
公开(公告)号: CN106908447A 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 吴剑锋;吴鸣;吴吉春 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01N21/85 分类号: G01N21/85
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204 代理人: 徐莹
地址: 210046 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种DNAPL在半透明颗粒材料内长期迁移过程中REV的确定方法,通过可见光微观成像技术扫描半透明颗粒材料的内部微观结构,从而计算材料的孔隙度等性质,接着用光透法测定DNAPL的饱和度、DNAPL‑水的界面面积,最后与相对梯度误差相结合。本方法集成了各种微观扫描技术的长处,与同类方法相比,本方法更加快速、方便、经济,无需放射性设备等复杂的条件,操作简便,精度高,可以对多孔介质内部流体迁移过程中的REV进行准确测定,在对DNAPL在材料内部迁移机理的研究、DNAPL长期迁移的精确模拟及修复方面具有较强的适用性。
搜索关键词: dnapl 半透明 颗粒 材料 长期 迁移 过程 rev 确定 方法
【主权项】:
一种DNAPL在半透明颗粒材料内长期迁移过程中REV的确定方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)将二维半透明颗粒材料饱水,使可见光穿透材料,CCD相机接收透射光强;(2)通过可见光微观成像技术计算出半透明颗粒材料的孔隙度;(3)DNAPL注入半透明颗粒材料中进行长期迁移,该过程中持续用可见光穿透材料并用CCD相机接收透射光强,用光透法计算DNAPL的饱和度、DNAPL‑水的界面面积;(4)用相对梯度误差对DNAPL长期迁移过程中的饱和度、DNAPL‑水的界面面积的REV进行定量评价;(5)对REV进行统计,分析DNAPL长期迁移过程中REV尺度分布的频率和累积频率的变化。
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