[发明专利]一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法在审
| 申请号： | 201710149127.3 | 申请日： | 2017-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN106932434A | 公开（公告）日： | 2017-07-07 |
| 发明（设计）人： | 常帅;张海军;黄明柱;徐松 | 申请（专利权）人： | 武汉科技大学 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;G01N25/16 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430081 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法，方法包括STEP1利用红外光脉冲加热样品；STEP2原子力显微镜(AFM)记录样品的形变，并绘制出地形图；STEP3根据样品的形变得到热膨胀函数；STEP4与分析软件中存储的对照物热膨胀函数进行对照，确定待测样品对应系统中的已有对照物信息；STEP5查看对照物的导热系数。本发明的有益效果是不仅可以得到待测物的热膨胀率，同时得到相互关联的导热系数，功能齐全，使用简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 成像 技术 测量 样品 导热 系数 方法 | ||
【主权项】：
一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法，其特征在于，包括：STEP 1：利用红外光脉冲加热样品；STEP 2：原子力显微镜(AFM)记录样品的形变，并绘制出地形图；STEP 3：根据样品的形变得到热膨胀函数；STEP4：与分析软件中存储的对照物热膨胀函数进行对照，确定待测样品对应系统中的已有对照物信息；STEP5：查看对照物的导热系数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉科技大学，未经武汉科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710149127.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
