[发明专利]一种射线源组件的漏射线测试方法及设备有效

专利信息
申请号: 201710134957.9 申请日: 2017-03-08
公开(公告)号: CN106680865B 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 李双学;祝一鸣;于军 申请(专利权)人: 沈阳东软医疗系统有限公司
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 路伟廷;罗满
地址: 110179 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明提供了一种射线源组件的漏射线测试方法及设备,能够以尽可能低的成本来实现漏射线测试。本发明的方法包括:在与焦点相距预定距离的位置设一探头;控制探头执行多个以焦点为球心、在经线和纬线维度上运动的运动周期,以无缝包络出第一半球面;将射线源组件翻转后,无缝包络出第二半球面,合并形成整个球面。本发明的设备包括第一回转臂、第二回转臂、一个探头、射线源组件的安装座、第一驱动单元和第二驱动单元,安装座、第一回转臂和第二回转臂依次可转动连接,探头安装于第二回转臂的转动端,用于测量其停留过的各位置的漏射线数值;第一回转臂和第二回转臂的回转轴垂直,并与探头的主体轴线相交于射线源的焦点,探头距焦点预定距离。
搜索关键词: 一种 射线 组件 测试 方法 设备
【主权项】:
1.一种射线源组件的漏射线测试方法,其特征在于,包括以下步骤:在与被测射线源组件中射线源的焦点相距预定距离的位置设置一个探头;控制所述探头执行多个以所述焦点为球心、在经线维度和纬线维度上进行运动的运动周期,以使得所述探头停留过的位置无缝包络出第一半球面,并通过所述探头检测所述第一半球面上各位置的漏射线数值;将所述射线源组件翻转后,控制所述探头按照上一步骤无缝包络出第二半球面,并通过所述探头检测所述第二半球面上各位置的漏射线数值,所述第二半球面与所述第一半球面合并形成整个球面。
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