[发明专利]一种托盘式集成电路芯片测试装置在审
| 申请号： | 201710125086.4 | 申请日： | 2017-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN106707141A | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 陈家峰;蒋伟;段超毅 | 申请（专利权）人： | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司44384 | 代理人： | 高早红,谢亮 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种托盘式集成电路芯片测试装置，包括测试机架和接触导通用探针模组；其中，测试机架上设置测试料盘载盘、以及使测试料盘载盘升降运动的气动升降部件，并且，测试料盘载盘还设置有对测试料盘进行限位的限位部件、以及升降感应及控制器；接触导通用探针模组包括有托板、托板上由上往下设置有转接插槽、PCB固定板、PCB转接板、探针A板、探针B板和测试探针，其中，测试探针分别固定在探针A板和探针B板内，并与PCB转接板接触连通。本发明可以对待测IC进行整盘测试，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 托盘 集成电路 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种托盘式集成电路芯片测试装置，其特征在于：包括测试机架和接触导通用探针模组；其中，测试机架上设置测试料盘载盘、以及使测试料盘载盘升降运动的气动升降部件，并且，测试料盘载盘还设置有对测试料盘进行限位的限位部件、以及升降感应及控制器；接触导通用探针模组包括有托板、托板上由上往下设置有转接插槽、PCB固定板、PCB转接板、探针A板、探针B板和测试探针，其中，测试探针分别固定在探针A板和探针B板内，并与PCB转接板接触连通。
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