[发明专利]任意重复频率飞秒激光时间抖动的测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710097721.2 申请日: 2017-02-22
公开(公告)号: CN106959166B 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 彭纯;梁晓燕;李文启;李儒新 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种用于任意重复频率飞秒激光时间抖动的测量装置。该装置基于平衡互相关法用于测量高重复频率(数十兆赫兹)激光抖动的方法,通过数据采集卡采集电压信号,并通过软件处理提取误差信号,使得该系统成功用于任意重复频率激光器的时间抖动的测量。本发明成功解决了任意重复频率飞秒激光时间抖动的测量问题,具有简单高效和实用性强的特点。
搜索关键词: 任意 重复 频率 激光 时间 抖动 测量 装置 方法
【主权项】:
1.一种任意重复频率飞秒激光时间抖动的测量方法,其特征在于,利用任意重复频率飞秒激光时间抖动的测量装置,该测量装置包括第一光束(1)、第二光束(2)、二分之一波片(3)、格兰棱镜(4)、第一双色镜(5)、二类倍频非线性晶体(6)、第二双色镜(7)、高反镜(8)、平衡光电探测器(9)、数据采集卡(10)和信号处理模块(11);所述的第一光束(1)和第二光束(2)为两束传播方向互相垂直、偏振方向相同、重复频率相同的待测基频光,第二光束(2)经过二分之一波片(3)透射后,与第一光束(1)在格兰棱镜(4)处合束,合束后的光经过第一双色镜(5)透射后,射入二类倍频非线性晶体(6),并产生第一路倍频光,该第一路倍频光透过第二双色镜(7)入射到平衡光电探测器(9)上,剩余基频光经第二双色镜(7)反射后,射入二类倍频非线性晶体(6),产生第二路倍频光,该第二路倍频光依次经第一双色镜(5)和高反镜(8)反射后,入射到平衡光电探测器(9)上;所述的平衡光电探测器(9)的输出端与数据采集卡(10)的输入端相连,该数据采集卡(10)的输出端与信号处理模块(11)的输入端相连,该测量方法包括如下步骤:步骤1、调节第二光束(2),使其经过二分之一波片(3),调节第一光束(1)和第二光束(2),使第一光束(1)和第二光束(2)在格兰棱镜(4)处达到空间和时间重合;步骤2、调节二类倍频非线性晶体(6)的角度,使二类倍频效应最强,产生第一路倍频光;步骤3、调节第二双色镜(7),使剩余基频光再次经过二类倍频非线性晶体(6),并发生二类倍频效应,产生第二路倍频光;步骤4、调节高反镜(8)和平衡光电探测器(9)的角度,使第一路和第二路倍频光在平衡光电探测器上的响应相等后,通过平衡光电探测器(9)输出相减电压信号,该相减电压信号包含第一光束(1)和第二光束(2)的时间误差信息;步骤5、通过数据采集卡(10)对平衡光电探测器(9)输出的相减电压信号进行采集并输送至信号处理模块(11)进行处理,具体步骤如下:首先,选择采样模式为N采样;然后,根据第一光束(1)或第一光束(2)重频频率设定采集卡的采样率N,即采样率N=采集卡的采样频率÷光束重复频率;最后,将每个采样周期内的信号进行滤波处理,选取最大值,即为所测误差信号。
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