[发明专利]放射射束对准和放射射束测量的系统、方法和装置有效
| 申请号： | 201710067313.2 | 申请日： | 2017-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN107041997B | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | S·蒂梅;M·莱曼 | 申请（专利权）人： | 瓦里安医疗系统国际股份公司 |
| 主分类号： | A61N5/10 | 分类号： | A61N5/10 |
| 代理公司： | 11256 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 提供了放射射束对准和放射射束测量的系统、方法和装置。用于使用电子射野影像装置(EPID)作为绝对放射射束测量装置并且作为放射射束对准装置，而无需实现精细和复杂的校准过程的系统和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 放射 对准 测量 系统 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种使用成像装置确定放射射束特性的方法，所述方法包括：/n使用所述成像装置获取一个或多个图像，所述成像装置包括多个像素；/n从所述一个或多个图像确定一个或多个参数；以及/n从确定的所述一个或多个参数来确定所述放射射束的一个或多个特性，/n其中所述一个或多个特性包括检测的光子的数量、放射射束能量变化、相对于准直器旋转轴的放射射束倾斜、放射射束对称性、放射射束平坦度和放射射束中心变化，/n其中确定所述一个或多个特性独立于像素增益值的变化。/n
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