[发明专利]光检测装置以及光检测系统有效
| 申请号： | 201710040480.8 | 申请日： | 2017-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN107271057B | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 西胁青儿;鸣海建治;盐野照弘 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 齐秀凤 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请提供一种光检测装置以及光检测系统。本公开的一形态所涉及的光检测装置具备：光检测器，包含沿着主面配置的多个第1检测器以及多个第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及遮光膜，配置在所述光耦合层上。所述光耦合层包含：第1低折射率层；第1高折射率层，配置在所述第1低折射率层上，包含第1光栅；以及第2低折射率层，配置在所述第1高折射率层上。所述遮光膜包含：透光区域、以及与所述透光区域相邻的遮光区域。所述透光区域与所述多个第1检测器中包含的两个以上的第1检测器对置，所述遮光区域与所述多个第2检测器中包含的两个以上的第2检测器对置。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种光检测装置，具备：光检测器，具有主面，包含沿着所述主面配置的多个第1检测器以及多个第2检测器；光耦合层，配置在所述光检测器上或者上方；以及遮光膜，配置在所述光耦合层上，所述光耦合层包含：第1低折射率层；第1高折射率层，配置在所述第1低折射率层上，包含第1光栅；以及第2低折射率层，配置在所述第1高折射率层上，所述第1高折射率层具有比所述第1低折射率层以及所述第2低折射率层高的折射率，所述遮光膜包含：透光区域、以及与所述透光区域相邻的遮光区域，所述透光区域与所述多个第1检测器中包含的两个以上的第1检测器对置，所述遮光区域与所述多个第2检测器中包含的两个以上的第2检测器对置。
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