[发明专利]一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法有效

专利信息
申请号: 201710030861.8 申请日: 2017-01-16
公开(公告)号: CN106705863B 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 张健一;刘晓平 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 李媛媛
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法,包括可调谐扫描激光器、第一耦合器、触发干涉仪、测量干涉仪、数据采集卡以及电脑。可调谐扫描激光器的光源通过第一耦合器后,一部分光依次进入触发干涉仪的第二耦合器、第三耦合器、产生相位差的器件和第一光电探测器,另一部分光进入测量干涉仪的第四耦合器;经第四耦合器后出射的一部分光直接到达第二光电探测器,另一部分光进入光环形器后再到达待测器件,由待测器件反射回来的光通过光环形器后到达第二光电探测器。本发明的方法具有无损、高精度快速测量等优点,其测量结果更加精确,测量方法更加便利。
搜索关键词: 一种 提高 光频域 反射 最大 测试 距离 方法
【主权项】:
1.一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法,其特征在于,该方法实现的系统包括:可调谐扫描激光器、第一耦合器、触发干涉仪、测量干涉仪、数据采集卡以及电脑;所述触发干涉仪包括第二耦合器、第三耦合器、产生相位差的器件和第一光电探测器;所述测量干涉仪包括第四耦合器、光环形器和第二光电探测器;所述第一光电探测器和第二光电探测器分别与数据采集卡连接,所述数据采集卡连接到电脑;所述可调谐扫描激光器的光源通过第一耦合器后,一部分光依次进入触发干涉仪的第二耦合器、第三耦合器、产生相位差的器件和第一光电探测器,另一部分光进入测量干涉仪的第四耦合器;经第四耦合器后出射的一部分光直接到达第二光电探测器,另一部分光进入光环形器后再到达待测器件,由待测器件反射回来的光通过光环形器后到达第二光电探测器。
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