[发明专利]一种自准直仪的精度检测装置及其检测方法在审

专利信息
申请号: 201710011220.8 申请日: 2017-01-06
公开(公告)号: CN106840045A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 王国名;崔成君;劳达宝;周维虎;张滋黎;董登峰;袁江;纪荣祎;石俊凯;王岩庆;范百兴;程智;郭晓晓 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司11403 代理人: 王安娜,李翔
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种自准直仪的精度检测装置及其检测方法,包括自准直仪、角锥棱镜、第一反射镜和第二反射镜,其中,所述第一反射镜的口径占用自准直仪的半口径,自准直仪发出的光通过第一反射镜反射形成自准直光路,所述第一反射镜的光轴作为所述检测装置的基准,自准直仪的另外半口径将十字像通过角锥棱镜和第二反射镜反射形成自准直光路。本发明提供的自准直仪的精度检测装置及其检测方法通过使用反射镜和角锥棱镜,在同一自准直仪的标定下,达到两个反向反射面的光轴平行,消除了由于中介标准件的角度误差给自准直仪精度检测引入的误差,提高了自准直仪的零位定标精度,降低了自准直仪的定标和精度检测试验的成本和时间。
搜索关键词: 一种 准直仪 精度 检测 装置 及其 方法
【主权项】:
一种自准直仪的精度检测装置,其特征在于,包括自准直仪、角锥棱镜、第一反射镜和第二反射镜,其中,所述第一反射镜的口径占用自准直仪的半口径,自准直仪发出的光通过第一反射镜反射形成自准直光路,所述第一反射镜的光轴作为所述检测装置的基准,自准直仪的另外半口径将十字像通过角锥棱镜和第二反射镜反射形成自准直光路。
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