[发明专利]测量六氟化硫分解气体中二氧化硫浓度的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201710001105.2 申请日: 2017-01-03
公开(公告)号: CN106885785A 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 李林军;白云峰;杨曦凝;杨玉强;刘洋;孙巍;鲁钢 申请(专利权)人: 黑龙江工程学院;黑龙江省电力科学研究院
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;G01N21/59
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 代理人: 岳泉清
地址: 150050 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 测量六氟化硫分解气体中二氧化硫浓度的装置及方法。属于光电技术检测领域。为了解决在六氟化硫分解气体测量时,测得的六氟化硫分解气体中二氧化硫气体浓度的精度低的问题。本发明的4055cm‑1激光器发出的激光经过第一聚光镜透射后射入样品池内,样品池的出射光经过第二聚光镜透射后射入光谱仪的入射狭缝中,样品池内充有待测六氟化硫分解气体。有益效果为测得的六氟化硫分解气体中二氧化硫气体浓度的精度较高;成本低,可靠性高,测量六氟化硫分解气体中二氧化硫浓度的方法简便,易操作,而且可以实时监测。适用于测量六氟化硫分解气体中二氧化硫的浓度。
搜索关键词: 测量 六氟化硫 分解 气体 二氧化硫 浓度 装置 方法
【主权项】:
测量六氟化硫分解气体中二氧化硫浓度的装置,其特征在于,包括4055cm‑1激光器(1)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5);所述4055cm‑1激光器(1)发出的激光经过第一聚光镜(2)透射后射入样品池(3)内,样品池(3)的出射光经过第二聚光镜(4)透射后射入光谱仪(5)的入射狭缝中;样品池(3)内充有待测六氟化硫分解气体。
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