[发明专利]质量分析装置及其离子检测方法有效
| 申请号： | 201680076701.0 | 申请日： | 2016-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN108475614B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 村上真一;照井康 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06;G01N27/62 |
| 代理公司： | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 曾贤伟;范胜杰<国际申请>=PCT/JP |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种能够高精度地检测离子量的质量分析装置及其离子检测方法。为了实现上述目的，一种使施加于质量分离部(102)的电压发生变化而选择性地提取所希望的离子，来进行通道扫描测定的质量分析装置(100)，该质量分析装置(100)设有：离子检测部(103)，其检测由质量分离部(102)分离出的离子，并输出电信号；离子量测定部(104)，其根据离子检测部(103)的输出测定离子量；以及离子量修正部(105)，其根据离子量测定部(104)的输出修正离子检测量，离子量修正部(105)在通道扫描的过程中，基于前1个通道的离子检测量修正在当前通道中检测出的离子检测量。 | ||
| 搜索关键词： | 离子量 离子检测 质量分析装置 离子检测部 通道扫描 质量分离 检测 离子 修正 输出修正 输出 施加 | ||
【主权项】：
1.一种质量分析装置，其使施加于质量分离部的电压发生变化而选择性地提取所希望的离子，来进行通道扫描测定，其特征在于，所述质量分析装置设有：/n离子检测部，其检测由所述质量分离部分离出的离子，并输出电信号；/n离子量测定部，其根据该离子检测部的输出测定离子量；以及/n离子量修正部，其根据离子量测定部的输出修正离子检测量，/n所述离子量修正部在通道扫描的过程中，基于前1个通道的离子检测量修正在当前通道中检测出的离子检测量，/n在所述离子量修正部中，基于前1个通道的离子检测量、1个通道的测定时间以及通道切换所需的间隔时间，决定当前通道的离子修正量。/n
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