[发明专利]用于确定宏拓扑、毫拓扑、微拓扑和纳米拓扑中的至少一个的评估系统和方法

摘要

本发明的目的是提供一种评估方法，在该方法中，确定至少两个介质的至少一个分界面的宏拓扑、毫拓扑、微拓扑以及纳米拓扑中的至少一个拓扑，获得关于至少两个介质的所述至少一个分界面的拓扑的信息。在该方法中，通过执行分割来处理所获得的关于至少两个介质的所述至少一个分界面的拓扑的信息，其中，从所获得的信息的背景信息分割所获得的信息的体积信息，生成基准表面信息，获得关于空隙的信息，分析所述关于空隙的信息，以提供多值化表面形状信息，并且基于所述多值化表面形状信息来执行所述关于空隙的信息的定量映射，用于确定至少两个介质的至少一个分界面的宏拓扑、毫拓扑、微拓扑以及纳米拓扑中的至少一个拓扑。

主权项

1.一种用于确定至少两个介质的至少一个分界面的宏拓扑、毫拓扑、微拓扑以及纳米拓扑中的至少一个拓扑的材料评估系统，所述系统包括用于获得关于至少两个介质的所述至少一个分界面的所述拓扑的信息的装置(104)，其特征在于，所述评估系统包括：用于从所述装置(104)导入所获得的信息的装置；用于接收所获得的信息的数据分析单元(106)，所述数据分析单元包括算法装置，所述算法装置用于通过执行分割来处理关于至少两个介质的所述至少一个分界面的所述拓扑的所获得的信息，其中，从所获得的信息的背景信息分割所获得的信息的体积信息；用于生成基准表面信息的装置；用于获得关于空隙的信息的装置；用于分析所述关于空隙的信息以提供多值化表面形状信息的装置；用于基于所述多值化表面形状信息来执行所述关于空隙的信息的定量映射的装置，并且所述评估系统包括所述数据分析单元(106)，所述数据分析单元用于确定至少两个介质的至少一个分界面的宏拓扑、毫拓扑、微拓扑以及纳米拓扑中的至少一个拓扑。